沈阳理工大学瞬态物理力学与能量转换材料重点实验室平台设备更新项目（功能扩展模块）招标公告

项目概况沈阳理工大学瞬态物理力学与能量转X设备更新项目（功能扩展模块）招标项目的潜在供应商X获取招标文件,并于X年X月X日X时XX（北京时间）前递交投标文件。一、项目基本情况项目编号：JHX-X-X项目名称：沈阳理工大学瞬态物理力学与能量转X设备更新项目（功能扩展模块）包组编号：X预算金额（X）：X.X最高限价（X）：X.X采购需求：查看第三章货物需求一、数量1.高频数据采集模块；数量：X.原子力显微镜X；数量：XX；数量：X.物质X；数量：X.瞬态信号采集X析模块；数量：X.功X；数量：X.X；数量：X.光纤光谱采集处理模块；数量：X.3D打印激光扫描成像模块；数量：X.导热系数测定仪扩展模块；数量：X.瞬态辐射温度演化采集模块；数量：XX参数调控模块；数量：X.极端环境X；数量：X.多功能环境试验舱扩展模块；数量：X.超X力学加载扩展模块；数量：X.非接触红外加热模块；数量：XX；数量：X.高性能一体高压静电纺丝成型模块；数量：1二、设备参数2.1高频数据采集模块（1）功能要求具有高频瞬态信号采集与X析功能，ns级响应，且具备不少于2.5GHz带宽、XGSs采样率以及8X（XX）等特征。（2）主机要求★1）X数：≥8个；★2）模拟带宽（X同时打开）：≥2.5GHz（提供产品功能截图证明）；★3）最高实时采样率：≥XGSs（提供产品功能截图证明）；★4）硬件垂直X辨率：≥Xbit；★5）高X辨率模式下最高垂直X辨率：≥X位；6）时基范围：至少覆盖Xpsdiv至Xsdiv；7）输入阻抗精度（1MΩ）：1MΩ±1%；8）输入灵敏度范围（阻抗1MΩ）：至少覆盖XμVdiv至XVdiv；9）垂直刻度位置范围：至少±5格；X）时基延迟范围：至少覆盖-X格至Xs；X）存储长度（X同时打开时）：≥X.5M样点；X）具有数字下变频的频谱视图功能，DC-2.5GHz；X）可视化触发：支持X个用X域的X触发（配套X，支持高频数据采集模块的实时X析，实时采集数据，离线X析；支持多台高频数据采集模块同步和控制）；X）内置功能：至少包含4位数字电压表、8位计数器；★X）内置触摸显示屏：≥X.6英寸；X）工作温度：至少覆盖0℃到+X℃；★X）主机个数：2台。（3）探头1）配有8支不低于1GHz带宽的单端探头；2）配有2支不低于1GHz带宽的扩展探头（8线）。（4）高频数据采集模块需完全适配光子多普勒测速仪（物科光学，PDV-X）。2.2原子力显微镜X（1）功能要求★1）可实现各种液相样品的长时间、稳定成像；聚合物样品的纳米力学性能测试、纳米热学性能测试，光电材料的光电流测试、腐蚀动力学研究以及电催化实验等（提供产品功能截图证明）。2）具备液体高X辨成像、高速扫描功能，适配轻敲成像模式：至少包括形貌成像、相位成像、损耗因子成像、表面电势成像以及扫描开尔文探针模式等。★3）振幅-频率粘弹性成像模式：具备探针低频和高频同时振动能力，其中第一共振频率用于形貌测试，第二共振频率用于模量等力学测试，在轻敲成像模式下具备同时获得样品的弹性模量、损耗因子、刚度、耗散能以及粘弹性等力学性能的能力。模量测试范围至少涵盖1MPa~XGPa（提供产品功能截图证明）。★4）接触共振粘弹性成像模式：扫描成像同时可利用共振频率变化获得样品弹性模量等力学性能信息，具备通过双频共振追踪模式实时追踪共振频率变化的功能，模量测试范围至少涵盖1GPa~XGPa（提供产品功能截图证明）。5）电化学显微镜模式：具备研究金属或其他材料的表面沉积、氧化、腐蚀以及物质转移等功能。（2）技术指标★1）激发方式：至少包含光热激发方式，保持扫描振幅和频率长时间稳定，液相长时间成像稳定。▲2）激发光源：FDAIEC一级认证（无害）的自动防故障联动发光二极管光源，波长≥Xnm（提供认证材料）。★3）可调节的激光功率：至少包含0.1mW，0.3mW，1mW，3mW和XmW。4）激光驱动频率：≥8MHz。★5）能够持续稳定得到HOPG原子相，电流测量范围：至少包含1pA~XnA（提供测试案例）。★6）具备纳米扫描热成像模式，能够进行纳米尺度的温度和热传导测试，温度灵敏度≤0.X℃，最高温度≥X℃（提供测试案例）。7）配置不少于X根探针，至少包括：导电探针X根、高X辨磁性探针X根以及形貌探针X根。（3）原子力显微镜X需完全适配原子力显微镜（四川菲克，CYP-ES）。2.3X（1）功能要求用于测试撞击过程中目标的冲击波压X包括锰铜压阻传感器与脉冲恒流源。（2）锰铜压阻传感器★1）敏感X件材料：锰铜；2）敏感X件阻值：0.1Ω（误差5%）；★3）测压范围：1～XGPa（提供测试案例）；▲4）传感器数量：≥X个。（3）脉冲恒流源★1）最大恒流值：≥9A；★2）Xs内恒流值的变化：≤1%；3）恒流建立时间：0.2～1μs；4）X数：4个。（4X需完全适配极端强冲击X（千眼狼，RVT-SX-XF）。2.4物质X（1）功能要求主要用于化合物（含固体、液体及气体）成X及X子结构（官能团）的定性、定量测定。（2）技术指标1X：光学台一体化设计，高稳定性，全密封设计（含工业显示屏直接显示温湿度）；★2）光谱范围：Xcm-1~Xcm-1（提供证明材料）；★3）X辨率：≤0.Xcm-1（提供证明材料）；4）透光率精度：≤0.5T%；★5）信噪比：≥X:1（提供测试报告，测试条件：P-P值，4cm-1X辨率，1X钟测试）；6）电源：X~XV，XHz；7）数据传输接口：高速USB2.0（兼容3.0）；8）长寿命高强度空冷红外光源；★9）X束器：多层镀膜溴化钾，带防潮涂层（提供证明材料）；★X）高灵敏度DLATGS检测器（提供证明材料）；▲X）配备低功耗长寿命半导体激光器与高频率稳定性He-Ne激光器（提供双激光器安装实物照片）；X）X束器、探测器以及窗片等核心部件均镀有特殊防雾化涂层，或配备KRS-5、ZnSe等防潮材料；▲X）推拉式样品仓门设计（提供推拉门实物照片）；★X）SuperTecX：全数字化，输出数字信号，X位、XkHz的AD转换（提供照片证明）；X）配备非正交设计的Michelson改良型干涉仪；▲X）仪器内置工业级温湿度显示屏，直接数字化实时显示仪器内部温湿度及湿度报警值，当仪器内部达到湿度报警值时（报警值可自设），发出报警蜂鸣，提示更换干燥剂（提供显示屏及报警装置实物照片）；▲X）腔体X体密封，仪器内部温度均匀，不采用X腔体密封（提供X体密封实物照片）；▲X）配备可重复使用的X不锈钢盒装干燥剂，干燥剂无需工具，快速装卸（提供干燥剂盒装卸实物照片）；▲X）符合电磁兼容设计规范要求，具有较强的抗电磁干扰能力和X机可靠性（提供检测报告，至少包含传导骚扰检测，静电放电抗扰度检测，射频电磁场辐射抗扰度检测，浪涌冲击抗扰度检测）；▲X）具有无线通讯模块，支持无线远程控制采集功能，具备语音提醒功能，可通过遥控器远程操作（提供实物照片，提供操作视频截图）；★X）计算机X兼容性：至少兼容WindowsXP、Windows7、Windows8、WindowsX、WindowsX等（提供证明材料）；X）红外工作站X：功能至少包括：全功能谱图处理、数据转换、多组X定量等功能；曲线X峰拟合功能；H2OCO2自动补偿功能；自检功能；宏程序X，吸光度透过率转换；ATR及高级ATR校正；KK转换；标峰、差谱（谱图四则运算）、平滑及高级平滑，基线校正，谱图显示及隐藏功能，线性化功能；Y轴归一化功能，QC比较功能，独立的基础解析功能，二维相关红外功能；X同时具有GBTX-X国家标准校准功能和JJFX-X红外校准规范校准功能；支持自定义数据格式，CSV，SPA，DPT，TXT等多种格式；支持波数cm-1和波长μm任意切换；X）标准红外图谱：约XX张。（3）配置1）压片机，压片模具，玛瑙研钵，KBr光谱纯，数显型红外烤灯，可拆液体池，ATR附件，智能电子防潮箱。2）配置操控硬件一台，配置不低于：U7，内存XG，硬盘1T，X独显，XX，X寸显示器；打印机；实验桌。（4）物质X需完全X（南京健天光电，VSR）。2.5瞬态信号采集X析模块（1）功能要求数据采集及可视化处理，具X波形显示、电压时间测量、触发、存储以及高级X析等能力。（2X要求★1）X数：≥8个（总）；★2）模拟带宽（X同时打开）：≥2GHz；★3）最高实时采样率：≥XGSs（提供截图证明）；★4）硬件垂直X辨率：≥Xbit；★5）高X辨率模式下最高垂直X辨率：≥X位；★6）时基范围：至少覆盖Xpsdiv至Xsdiv；7）输入阻抗精度（1MΩ）：1MΩ±1%；8）输入灵敏度范围（阻抗1MΩ）：至少覆盖XμVdiv至XVdiv；9）垂直刻度位置范围：至少±5格；★X）时基延迟范围：至少覆盖-X格至Xs；▲X）存储长度（X同时打开时）：≥XM样点；X）具有数字下变频的频谱视图功能，DC-2GHz；X）可视化触发：支持X个用X域的X触发；X）内置功能：至少包含4位数字电压表、8位计数器；★X）内置触摸显示屏：≥X.6英寸；X）工作温度：至少覆盖0℃到+X℃；★X）主机个数：2台。（3）探头要求1）配有8支不低于1GHz带宽的单端探头；2）配有2支不低于1GHz带宽的扩展探头（8线）；▲3）配有1支不低于XMHz带宽的高压探头，最大电压≥XkV；4）配有1支不低于XkHz带宽的电流探头，最大电流≥XADC。（4）X要求★1）连续波模式下探测信噪比：≥X:1（提供证明材料）；★2）绝对自旋数目灵敏度：≤5×XspinsG·√Hz（提供证明材料）；3）微波频率范围：9.2~9.9GHz；4）调制场频率：至少包含XkHz、XkHz和XkHz；★5）磁场范围：-X~XGauss（支持过X点扫描）；▲6）支持相对定量EPR计算；支持无需标样的绝对自旋数定量EPR计算；具有AI-EPR解谱功能，支持一键解析自由基体系信号，并提供可能的样品结构、谱图参数拟合信息（提供g因子、超精细耦合常数、线宽、线型等物理参数）及相关文献来源（提供相应的X截图作为证明材料）；★7）X1套（温度范围覆盖X~XK）；标准样品组1套；样品管1X1套；配置操控硬件一台（配置不低于：U7，内存XG，硬盘1T，X独显，XX，X寸显示器）及测试操作桌一张。（5）瞬态信号采集X析模块需完全X（南京健天光电，VSR）。2.6功X（1）功能要求具备电极材料、电解液以及电池等功能单X的电子传输能力、电容量、电循环性能、长期稳定性、高低温状态电性能X析等能力。（2）技术指标1）X数：至少8X（可无限拓展）；★2）X功能：X具有完全独立全功X能控制X同步测试，所有功能X均能独立测试；X施加恒电流，X可同时测原位阻抗；3）电极连接方式：二、三及四电极；★4）通X。（3）X功能★1）支持自定义设置实验方法，支持完成序列、循环实验；2）序列实验过程中，对已完成的实验测试数据可自动X；★3）X析功能包含阻抗X拟合、离子电导率自动计算等功能，可根据实验数据实现计算X析，支持不同实验方法（包含序列、循环实验），实验测试切换时间≤3s（提供证明材料）；4）可搭配4套旋转圆环盘电极组成4个双恒电位仪；5）提供标准底层动态库接口，以DLL动态库的形式实现，支持Labview、C++、C#、VisualBasic等多种编译语言，或第三方数据X接口协议，支持TCPP、OPC、MOTT、XHTTP以及用户自定义接口协议等；6）测试过程中能自动实时保存数据及自动XExcel等文件格式数据，可进行离线X析，能够XzviewX直接打开的数据。（4）硬件参数1）输出电压范围：至少包含-XV~+XV；2）施加测量电位范围：至少包含-XV~+XV；3）施加测量电流范围：至少包含-1A~+1A；4）施加电位精度：≤±0.1%；★5）施加电位X辨率：±XmV（1μV）；±1V（XμV）；±XV（XμV）；6）测量电位精度：0.1%×满量程读数±1mV；7）测量电位量程：至少包含±XmV，±1V，±XV，量程自动切换；8）测量电位X辨率：≤0.X%×测量范围；9）施加电流精度：≤±0.1%；X）施加电流X辨率：0.X%；X）测量电流精度：≤±0.1%×读数；▲X）电流档：至少包含1nA~1A，不少于X档电流量程自动切换（提供证明材料）；X）恒电位带宽：≥2MHz；X）切换速度：≥XVμs；▲X）上升时间：≤Xns（提供证明材料）；X）差X静电计带宽：≥XMX补偿；X）X数：至少8X（可拓展无限）；X）阻抗测量频率范围：至少包含XμHz~1MHz，交流电压振幅：至少包含0.1mV~1VRMS，交流电流振幅：至少包含0.XmA~2Ap，X使用无感电阻，测试相位X低于1度。（5）电池恒温箱1）电池恒温箱温度范围：0~X℃；2）电池恒温箱温度波动度：≤±0.5℃（空载、温度稳定时）；3电池恒温箱温度偏差：±2.0℃（空载、温度稳定时）。（6）配置至少包含：电化学工作站主机一台、模拟电解池一X线一根、电源线一根、X光盘一套、电池恒温箱一台、配置操控硬件一台（配置不低于：U7，内存XG，硬盘1T，X独显，XX，X寸显示器）、实验桌一张。（7）功X需完全适配固体表面Zeta电位测量仪（奥德利诺，ZPAX）。2.7X（1X可测试介电常数、磁导率以及电磁损耗X正切等电磁参数，用于表征材料电磁特性。（2）同轴法★1）频率范围：至少包含XMHz～XGHz；2）同轴空气线线长：≥Xmm；3）配置专用制样模具，用于固体或粉末样品制作；★4）介电常数测试误差：≤±5%。（3）波导法★1）频率范围：至少包含2.6GHz～XGHz；2）校准件：配置TRL校准用全套精密校准件（反射板，X片镀金处理）；3）介电常数测试误差：≤±5%；4）配置高精密工装支架，无需螺钉及螺母即可实现紧固，单人可实现校准及测试操作。（4）测试X▲1）可测试介电常数、磁导率、电磁损耗X正切等电磁参数（提供X界面截图）。2）支持测量及保存S参数（ScatteringParameters）。▲3X络X析仪控制功能、测量控制功能、数据采集功能、参数计算功能、数据显示功能、数据存储功能、数据打印功能、文件载入功能以及数据X析功能（提供X界面截图）。▲4）具有通过介电常数及磁导率计算反射率、衰减系数等参数的功能（提供X界面截图）；X支持扩展波纹传输线、X体谐振腔和自由空间法电磁参数测试方法（提供X界面截图）。★5X络X析仪频率范围：至少包含XMHz～X.5GHz。★6X络X析仪频率X辨率：≤0.1Hz。7X络X析仪频率准确度：±1×X-7（X℃±3℃）。8X络X析仪最大输出功率：≥+XdBm（XMHz～XMHz）；≥+XdBm（XMHz～XMHz）；≥+XdBm（XMHz～1GHz）；≥+XdBm（1GHz～XGHz）；≥+XdBm（XGHz～XGHz）；≥+8dBm（XGHz～XGHz）；≥+3dBm（XGHz～X.5GHz）。★9X络X析仪最小输出功率（典型值）：≤-XdBm。★XX络X析仪功率扫描范围：≥XdB。★XX络X析仪中频带宽：1Hz～XMHz。XX络X析仪最大扫描点数：≥X点。XX动态范围（XHz中频带宽）：≥XdB（XMHz～XMHz）；≥XdB（XMHz～XMHz）；≥XdB（XMHz～1GHz）；≥XdB（1GHz～XGHz）；≥XdB（XGHz～XGHz）；≥XdB（XGHz～XGHz）；≥XdB（XGHz～X.5GHz）。XX络X析仪有效方向性：≥XdB（XMHz～2GHz）；≥XdB（2GHz～XGHz）；≥XdB（XGHz～X.5GHz）。XX络X析仪幅度迹线噪声（-5dBm，1kHz中频带宽）：≤0.XdBrms（XMHz～XMHz）；≤0.XdBrms（XMHz～XMHz）；≤0.XdBrms（XMHz～XMHz）；≤0.XdBrms（XMHz～X.5GHz）；≤0.XdBrms（X.5GHz～X.5GHz）。★XX络X析仪显示屏：≥X英寸，支持点触控功能，支持中英文切换。XX络X析仪支持录制运行一键式操作。XX络X析仪外设接口：USB接口、GPIB接口、VGA接口、LAN接口以及HDMI接口。XX络X析仪测试端口：2.4mmNMD（阳头）。X）配置VNA稳幅稳相电缆2根、2.4mm校准件1套、N型校准件1套。X）配置操控硬件一台，配置不低于：U7，内存XG，硬盘1T，X独显，XX，X寸显示器。配备实验台一张。（5）X需完全X（武汉嘉仪，Namicro-3）。2.8光纤光谱采集处理模块（1）功能要求具备ms级时间内测量爆炸、冲击以及化学反应过程中产物物质光谱的能力，并具有X析X子结构、确定物质组X等功能。★（2X：X。★（3）波长范围：X~Xnm（提供证明材料）。▲（4）光学X辨率（提供证明材料）：X1：光栅X线mm，波长XXXXXXXX灵敏度：≥X,X（单位：计数微瓦每毫秒积X时间）。▲（7）探测器类型：CMOS，X像素阵列（提供证明材料）。★（8）X数：≥8个。（9）信噪比：≥X：1。（X）AD转换器：X位，6MHz。（X）最短积X时间：≤9μs。（X）数据接口：USB3.0X口5X1Gbps。★（X）单次采样最小耗时（带板卡平均功能）：≤0.Xms每次采样。（X）单次采样数据传输最小耗时：≤0.Xmsscan（USB3.0）；≤1.Xmsscan（ETH）。★（X）外触发延时：最小值≤0.9μs，抖动≤Xns，且延时可调。（X）数字IO接口：HD-X连接器，2个模拟输入，2个模拟输出，X个数字双向，触发，同步，脉冲光源，激光器。（X）最大采样频率：≥X幅秒。（X）光谱仪工作的温度范围：覆盖0~X℃。▲（X）提供成X识别光谱X，拥有完X的最新原子、离子和X子数据库（提供X宣传彩页）。▲（X）外形尺寸：长度≤Xmm，宽度≤Xmm，高度≤Xmm（提供产品宣传彩页）。（X）配件1）光纤：一X八光纤，X微米芯径，SMAX接口，通光范围覆盖X~Xnm，不小于两米长，附带金属铠甲；配备便携式计算设备，参数：处理器UXHX，显卡RTXX，XG内存，1T存储。配置试验桌一张。2）准直透镜：焦距8.7mm，SMAX接口，通光范围覆盖X~Xnm，透镜直径6mm。（X）光纤光谱采集处理模块需完全适配混合物组X（上海仪电X析，GCXN、GCXN-MSX、LCX）。2.XD打印激光扫描成像模块（1）功能要求具备获取物体二维轮廓或三维形貌数据的能力，生成数字化模型，用于复杂形状的X轮廓数据。（2）技术指标▲1）参考距离（CD）：0~Xmm内均可采集数据（提供证明材料）；★2）Z轴量程（FS）：≥Xmm；★3）X轴宽度参考距离：≥Xmm；★4）光源波长：Xnm；★5）激光器等级：不低于2M级；▲6）激光器输出功率：≥XmW（提供证明材料）；★7）Z轴重复精度：≤0.2μm；▲8）X轴重复精度：≤5μm（提供证明材料）；▲9）X轴数据间隔：≤Xμm（提供证明材料）；▲X）X轴轮廓点数：≥X（提供证明材料）；X）扫描速度：X~XHz；★X）工作温度：0~X℃；X）储存温度：-X~X℃；X）工作湿度：X~X%，无凝露；X）尺寸：长度≤Xmm，宽度≤Xmm，高度≤Xmm；X）重量：≤0.Xkg；X）配套X：OPT3DSensor；★X）数据格式：至少包含ecd格式；X）数据支持X：至少支持SCI-smartvision。（3）3D打印激光扫描成像模块需完全适配3D打印机（苏州中瑞，iSLMXD）。2.X导热系数测定仪扩展模块（1）功能要求具备不低于X℃温度条件下测量材料导热系数的能力。（2）技术指标★1）试样尺寸范围：ΦX.5×1~5mm；★2）导热系数测量范围：0.1～XWm·K（提供证明材料）；★3）热扩散系数：0.1～Xmm2s（提供证明材料）；▲4）最高温度：≥X℃（高温状态下具备气氛保护）（提供证明材料）；5）热扩散系数测试精度：≤±4%；6）导热系数测试精度：≤±4%。（3）导热系数测定仪扩展模块需完X（中久大光，DGMMX）。2.X瞬态辐射温度演化采集模块（1）功能要求具备观测采集目标物体瞬态（μs~ms级）温度场变化的能力。（2）技术指标★1）光谱范围：至少覆盖1.5~5.4μm（提供基于InSb探测器的光谱测试结果的彩页证明材料）；★2）X辨率：≥X×X（提供图像证明材料）；★3）像X尺寸：≤Xμm（提供图像证明材料）XX功能截图）；6）EHDRI扩展的动态成像功能；▲7）全幅帧频：≥XHz（需提供X功能截图）；★8）窗口模式帧频：X×XX辨率≥XkHz